超聲顯微鏡檢測或無損檢測高速數(shù)據(jù)采集卡Al8xgte-x系列

新一代高速數(shù)據(jù)采集卡Al8xgte-x系列，超聲顯微鏡或無損檢測神器！

 如果你需要進行精確、可靠的無損檢測，那么Al8xgte-x系列的高速數(shù)據(jù)采集卡一定是你的首選。這一系列的采集卡擁有著良好的兼容性和穩(wěn)定性，適用于各類超聲檢測領(lǐng)域，包括金屬材料、鋼制管道以及航空航天等。

Al8xgte-x系列數(shù)據(jù)采集卡采用了先進的數(shù)字信號處理技術(shù)，在高速數(shù)據(jù)采集方面具備重大優(yōu)勢。與此同時，它還擁有高速采集存儲、回放等多項功能，以滿足各類客戶在超聲檢測方面的需求。

Al8xgte-x系列采集卡是一種非常方便易用的設(shè)備，它能簡化檢測過程，并有效提升工作效率。使用該設(shè)備，只需要將數(shù)據(jù)采集卡連接至計算機的PCIe括展槽內(nèi)，開啟軟件即可開始操作。另外，根據(jù)不同客戶的需求，我們也提供了多種多樣的接口，以便靈活應(yīng)對各類檢測需求。

這些板卡系列有傳統(tǒng)的PCI接口的板卡，而高速采集率的（1G, 1.5G, 3GS/s）的采集卡則采用PCI Express接口，以提升數(shù)據(jù)傳輸速率。

所有的OKOS板卡方案允許多觸發(fā)采集和板上峰值檢測功能。甚至也可以通過固件升級進行定制處理功能。

  這些系列的板卡最大的特點是針對超聲顯微鏡應(yīng)用做的優(yōu)化: 在一個測試樣本內(nèi)多域B-SCAN的創(chuàng)新。這個新的功能允許用戶當(dāng)跟蹤到一個閾值跨越時去測試獨立的波形區(qū)域。

  例如：設(shè)置時段從10到12us, 40到40us， 120到124us，和160到165us，這這個測試樣本內(nèi)，只從這些區(qū)域收集數(shù)據(jù)。這項功能在需要非連續(xù)B-SCAN區(qū)域內(nèi)的應(yīng)用非常有價值。

總之，Al8xgte-x系列高速數(shù)據(jù)采集卡是一款值得信賴的無損檢測神器。只要您選擇了這款設(shè)備，您就能夠體驗到一種高效、可靠的檢測過程，讓您的工作更加省心省力。